Niedrigtemperatur Rastersondenmikroskop2018-02-21T18:15:45+00:00

Project Description

Niedrigtemperatur Rastersondenmikroskop

Wir benutzen einen Micro/Nano-fabricated Hall Sensor um die local magnetic flux density der Probendichte zu messen. Mit den STM und AFM Positionierung Techniken kann sich der Sensor an das Sample nähern. Wir haben bei 300K, 50nm laterale Auflösung erreicht.
Unser System hat auch die MFM, AFM und STM Optionen, so dass Sie keinen zweiten SPM kaufen müssen. Die Standarte AFM Option benützt die dynamische Modus Operation mit Quarz Crystal oder Akiyama Sensoren. Die zweite AFM Option die wir entwickelt haben benützt eine Fiber Optischen interferometer der operativen Fähigkeiten bei 1320nm Wellenlänge hat. Es läuft mit Contact, Non-Contact und Tapping Modus. Die Spreading resistance/Conductive AFM, MFM und EFM sind auch verfügbar. Wir benutzen einen Micro/Nano-fabricated Hall Sensor um die local magnetic flux density der Probendichte zu messen.

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