Низкотемпературный сканирующий зондовый микроскоп Холла(LT-SHPM)2018-02-16T16:17:02+00:00

Project Description

Низкотемпературный сканирующий зондовый микроскоп Холла

Низкотемпературный сканирующий зондовый микроскоп Холла
В низкотемпературных сканирующих зондовых микроскопах Холла для измерения локальной плотности магнитного потока поверхности образца применяется микро/нанодатчик Холла. Используя АСМ или СТМ методы позиционирования, датчик подводится максимально близко к поверхности образца. Нам удалось добиться латеральной разрешающей способности 50нм при 300K.

В наших микроскопах предусмотрены опции МСМ, АСМ и СТМ, таким образом Вам не нужно приобретать дополнительный сканирующий зондовый микроскоп. В стандартной конфигурации АСМ работает в динамическом режиме с кварцевым кристаллом или датчиком Акиями. Вторая недавно разработанная нами конфигурация АСМ использует волоконно-оптический интерферометр, работающий на длине волны 1320нм. Этот микроскоп может работать в контактном, бесконтактном и полуконтактном режимах. Также доступны режимы измерения токов растекания/проводящей АСМ, МСМ и электростатической силовой микроскопии .

Технический паспорт продукта
СВЯЗАННАЯ ЛИТЕРАТУРА
БОЛЬШЕ ИНФОРМАЦИИ
ЗАПРОС НА ИНФО