Сканирующий микроскоп с зондом Кельвина (mK SPM)

2018-03-05T12:04:12+00:00

Сканирующие микроскопы с зондом Кельвина для систем 3He и 3He и криогенных рефрижераторов для измерений при температурах ниже 1K. Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина, МСМ, СТМ, АСМ и другие режимы работы доступны в mK-SPM.

Низкотемпературный сканирующий зондовый микроскоп Холла(LT-SHPM)

2018-02-16T16:17:02+00:00

В низкотемпературныз сканирующих зондовых микроскопах Холла для измерения локальной плотности магнитного потока поверхности образца применяется микро/нанодатчик Холла.