• Düşük Sıcaklık Scanning Hall Probe Mikroskobu
  • Düşük Sıcaklık Scanning Hall Probe Mikroskobu
Düşük Sıcaklık Scanning Hall Probe Mikroskobu2018-03-09T16:00:56+00:00

Project Description

Düşük Sıcaklık Scanning Hall Probe Mikroskobu

Düşük Sıcaklık Scanning Hall Probe Mikroskopları için,biz Micro/Nano boyutta üretilmiş Hall sensörünü,örnek yüzeyindeki manyetik akım miktarını ölçmek için kullanılıyoruz. STM ve AFM hizalama teknikleriyle, sensörü örnek yüzeye doğru yaklaştırılır.Biz,300k da,50nm yatay çözünürlükte görüntülemeyi başardık.

Bizim sistemlerimizin ayrıca MFM, AFM ve STM seçeneklerinin olması dolayısıyla, ikinci bir SPM almanıza gerek yoktur.Akiyama sensörleri ve quartz kristalleri ile standart AFM seçeneğinde dinamik mod yönetimi kullanılır.Geliştirdiğimiz diğer AFM seçeneği fiber optik interferometre, 1320nm dalga uzunluğunda çalışıyor.Temaslı, temassız ve Tapping mode şeklinde kullanabilirsiniz.Direnç/iletken AFM, MFM ve EFM de satın alınabilir durumda.

Ürün Kataloğu
İLGİLİ MAKALELER
DAHA FAZLA BİLGİ
TALEP İSTEĞİ