HEMS sistemleri, numunelerin elektronik özelliklerini ölçmek ve analiz etmek için tasarlanmış entegre bir donanım ve yazılım sistemine sahiptir.
Sistem tasarımı, 2.5 Tesla’ya kadar manyetik alan altında ölçüm alma imkanı sunar.
Aynı zamanda sistem, 3 farklı eksende hareket edebilen prob sistemi ile numunelerin kolay montajını sağlarken, 2 farklı sıcaklık ölçüm başlığı ile 3K-1273K aralığında ölçüm alma fırsatı sunar.
NMI – Hall Etkisi Ölçüm Sistemi (HEMS) cihazı yarı iletken, organik iletken ve metal oksit malzemelerin elektriksel karekterizasyonunu yapmaktadır. Nanoteknoloji yöntemleriyle geliştirilen bu malzemeler çip teknolojisinin geliştirilmesinde, güneş hücrelerinin/pillerinin geliştirilmesinde, malzeme biliminin geliştirilmesinde, uzay teknolojisinde ve savunma sanayinde kullanılmaktadır.
|
|
| |
Ölçüm Sistemi | DC Hall Etkisi Ölçümü | Standart sistem | |
AC Hall Etkisi Ölçümü | Ek seçenek | ||
Optic Hall Etkisi Ölçümü | Ek seçenek | ||
Geniş direnç ölçümü | Ek seçenek – Direnç aralığı: 1µΩ – 200GΩ– | ||
Ölçüm Seçenekleri | Özdirenç | Standart sistem | |
Magnetodirenç | |||
Direnç – Sıcaklık (R-T) | |||
van der Pauw | |||
Hall Bar | |||
Akım-Voltaj (I-V) | |||
Voltaj-Akım (V-I) | |||
Sıcaklık Seçenekleri | Düşük Sıcaklık | 3K – 300K, 0.2K hassasiyet | |
Yüksek Sıcaklık | 300K – 1273K, 1K hassasiyet | ||
Elektromıknatıs | DC Manyetik Alan | Maksimum 2.5T | |
AC Manyetik Alan | Maksimum 1T | ||
Kutup yüzeyi (Pole face) | 100mm – 25mm | ||
Kutuplar arası mesafe (Pole gap) | 0mm – 130mm | ||
Bipolar Güç Kaynağı | 1kVA / 3kVA / 5kVA /10kVA |
| |
Akım/Voltaj aralıkları | 45A/22V ; 80A/40V ; 100A/50V ; 140A/70V | ||
1-faz |
| ||
Hava soğutucu-anahtarlamalı mod tasarımı |
| ||
18Bit akım ayarlı çözünürlük |
| ||
Mıknatıs diagnostik fonksiyonu |
| ||
Bobin sıcaklık okuması | 4-kanal | ||
Su akış hızı sensörü |
| ||
LCD ön panel ekran |
| ||
USB 2.0 arayüz |
| ||
Soğutucu | Oda sıcaklığı ölçümü | Soğutma kapasitesi | 1KW |
Düşük /veya/ Yüksek Sıcaklık ölçümü | Soğutma kapasitesi | 5.2KW | |
Düşük /ve/ Yüksek Sıcaklık ölçümü | Soğutma kapasitesi | 13.2KW | |
Gaussmetre | NMI Gaussmetre | 3×10-4 Tesla duyarlılık | |
Keithley | Akım ölçer | Keithley-6485 | |
Picoammeter | Keithley-6220 | ||
Nanovoltmeter | Keithley-2182A | ||
Anahtar sistemi | Keithley-7001 | ||
Diğer kombinasyonlar | Eke seçenek | ||
Anahtar Kartı | NMI-Anahtar kartı | *Hall Etkisi Ölçümleri için Keithley cihazlarıyla işlevsel olarak çalışabilen NMI anahtar kartı* | |
*Bu kart Keithley-7065 kartına eşdeğerdir * | |||
Ölçüm Gereksinimleri | Basınç değeri | Minimum 1e-6mbar | |
Sıcaklık kontrolcüsü | Standart sistem – Düşük sıcaklık ölçümleri | ||
He kompresörü | Standart sistem – Düşük sıcaklık ölçümleri | ||
Cernox sıcaklık sensör | Standart sistem – Düşük sıcaklık ölçümleri | ||
Isıtıcı | Standart sistem – Yüksek sıcaklık ölçümleri | ||
Isıl çift (Thermocouple) | Standart sistem – Yüksek sıcaklık ölçümleri | ||
Atıl gaz | Ek seçenek – Yüksek sıcaklık ölçümleri | ||
Yazılım | LabView |
| |
Otomatik sıcaklık kontrolü |
| ||
Otomatik manyetik alan kontrolü |
| ||
Otomatik Hall etkisi ölçümü |
| ||
Haberleşme | GPIB, IEEE 488 |
| |
USB |
| ||
HEMS Güvenlik Sistemi | Kapalı çevrim su soğutma sistemi |
| |
Soğutucu |
| ||
Elektromıknatıs sıcaklık sensörü |
| ||
Akış sensörü |
| ||
Yazılım güvenlik programı |
|
QUESTION: What is the difference between HEMS and ezHEMS devices?
ANSWER: There is no difference in the working principle in our HEMS and ezHEMS devices. The HEMS device covers the low, medium and high resistance range, while the ezHEMS device is considered the medium resistance measuring device. While using the electromagnet system in the HEMS device, the permanent magnet system is used in the ezHEMS device and there are only two different magnetic field options. In addition, the HEMS device is very large, the ezHEMS device is more portable and desktop size.
QUESTION: What is the Hall Effect Measurement System (HEMS)?
ANSWER: Hall measurement systems are measuring devices that perform electrical characterization of the samples based on “Hall Effect Theory”.
QUESTION: What types of samples can we use for HEMS device?
ANSWER: GaAs, based materials (HEMSTs, pHEMTs, HBTs, FETs, MESFETs, InP, InAs, GaN, AIN, Si, Ge, SiC, HgCdTd, ZnO, SiGe, MnGaAS, infrared applications (LED, laser diodes, detectors), metal oxides, organic, inorganic conductors, ferrits etc.
QUESTION: What is the sample size for HEMS?
ANSWER: 5mm x 5mm sample size (large sizes are optional)
QUESTION: What is the measurement type for HEMS?
ANSWER: Measurement types are resistivity, magnetoresistance, R-T, van der Pauw, Hall Bar,
I-V, V-I
QUESTION: What is the measurement temperature options for HEMS?
ANSWER: There are 2 different temperature measurement options and measuring heads for HEMS;
3K-300K: low-temperature measurement option
300K-1273K: high-temperature measurement option
QUESTION: We can use the HT and LT heads at the same time?
ANSWER: HT meaning is “High-Temperature measuring head”, and LT meaning is “Low-Temperature measuring head”. Measurement heads are different for HT and LT. If you want to measure between 3K-300K, you need to use LT-head. If you want to measure between 300K-1273K, you need to use HT-head.
QUESTION: How does the LT measuring head cool?
ANSWER: The cooling head is special for the HEMS and the cooling process is cooled with the “cryogen-free” system with the help of He compressor.
QUESTION: When should we use the vacuum pump?
ANSWER: You must use the vacuum pump for all temperature measurements.
https://secureservercdn.net/160.153.137.40/433.f39.myftpupload.com/wp-content/uploads/2020/05/mK-SPM.pdf