低温扫描霍尔探针显微镜2018-03-09T16:00:15+00:00

Project Description

低温扫描霍尔探针显微镜

对于低温扫描霍尔探针显微镜,我们使用微/纳米制造的霍尔传感器来测量整个样品表面的局部磁通密度。 使用STM或AFM定位技术使传感器靠近样品表面。 我们在300K达到了50nm的横向分辨率。

我们的系统也有MFM,AFM和STM选项,所以你不必购买第二个SPM。 标准的AFM选项使用石英晶体或秋山传感器的动态模式操作。 我们最近开发的第二个AFM选件使用了工作在1320nm波长的光纤干涉仪。 您可以在接触式,非接触式和轻敲模式下运行。 扩展电阻/导电AFM,MFM和EFM也可用。

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