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LT-AFM/MFM

Le LT-AFM/MFM est un système de microscopie à force atomique sans alignement équipé d'un interféromètre à fibre fonctionnant à 1310 nm, un niveau de bruit de 15 fm/√Hz avec une plage de fonctionnement de 20 mK à 300 K et un champ magnétique jusqu'à 16 T.

LT-AFM/MFM
AFM/MFM basse température
Instruments nanomagnétiques LT-AFM/MFM

Le LT-AFM/MFM est un système de microscopie à force atomique sans alignement équipé d'un interféromètre à fibre fonctionnant à 1310 nm, un niveau de bruit de 15 fm/√Hz avec une plage de fonctionnement de 20 mK à 300 K et un champ magnétique jusqu'à 16 T.

La conception sans alignement crée une utilisation conviviale ; l'interféromètre à fibre transporte la lumière au moyen d'un câble à fibre par rapport à l'extrémité du porte-à-faux, et sert à mesurer la déflexion du porte-à-faux ;

Pendant ce temps, offrant une résolution magnétique de 10 nm à 4K. Les puces d'alignement avec trois saillies compatibles avec les porte-à-faux commerciaux éliminent le besoin d'alignement optique par l'utilisateur final.

Le LT-AFM/MFM permet la caractérisation des matériaux en offrant différents modes d'imagerie ; Microscopie à sonde Hall à balayage, microscopie à force magnétique, microscopie à force électrique, microscopie à force de sonde Kelvin, AFM conductif.

L'instrumentation et la conception unique du microscope LT-AFM/MFM lui permettent d'être personnalisé pour différentes dimensions de cryostat.

La tête du microscope est constituée de deux piézotubes concentriques ; le tube piézo intérieur pour le balayage et l'extérieur pour le positionnement de l'échantillon.

Le piézo à balayage est composé d'électrodes quadrants et d'un piézo dither pour faire trembler le porte-à-faux et est livré avec trois options différentes sur demande.

L'approche de l'échantillon se fait par un mouvement de stick-slip; permettant un mouvement de 10mm en Z et Ø3mm en XY, avec une sensibilité de 50nm.

Les signaux électroniques sont générés par la puissante électronique LT-AFM/MFM via les sorties BNC ; transféré au microscope via des connexions LEMO.

Options de tête de lecture

Ultra grande surface

200x200x7.2μm à 300K

50x50x4.8μm @77K

30x30x2.4μm @4.2K

Grande surface

150x150x7μm à 300K

36x36x1.8μm @77K

18x18x0.8μm @4.2K

Zone standard

52x52x4.8μm @ 300K

14x14x1.2μm @77K

6x6x0.5μm @4.2K

LT-AFM à très faible bruit avec interféromètre Fabry-Perot

Le nouvel interféromètre à fibre Fabry-Pérot intégré à notre microscope à force atomique/force magnétique basse température (LT-AFM/MFM) fonctionne dans la gamme de température 4–300 K. Une fibre optique revêtue d'un miroir diélectrique multicouche est utilisée pour atteindre un niveau de bruit sans précédent de 1 fm/√Hz, tandis que la limite de bruit de tir est de 0,51 fm/√Hz. La longueur de la cavité est réglable et la fibre peut être amenée à proximité très proche du porte-à-faux à l'aide d'un piézonanopositionneur dédié à course de 2 mm intégré au scanner piézotube. Le même nanopositionneur est également utilisé pour garer la fibre à un emplacement de stationnement sûr pendant l'échange en porte-à-faux.

Options de tête de lecture

Ultra grande surface

200x200x7.2μm à 300K

50x50x4.8μm @77K

30x30x2.4μm @4.2K

Grande surface

150x150x7μm à 300K

36x36x1.8μm @77K

18x18x0.8μm @4.2K

Zone standard

52x52x4.8μm @ 300K

14x14x1.2μm @77K

6x6x0.5μm @4.2K